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ATE 解決方案

提升半導體老化測試溫箱的容量

隨著高可靠性終端市場要求半導體 IC 達到質量、可靠性和穩定性的最高水准,老化測試溫箱的使用越來越普遍。 僅僅新增老化系統的尺寸和電源數量並不是一個理想的選擇,因為受到與傳統 ATE 測試系統類似的工廠占地面積的限制。

所有終端市場的 IC 效能和複雜性都有所提高,尤其是汽車和資料中心市場,在這些市場上,嚴格的質量和可靠性要求是標準,零 PPM 故障率是人們的期望。 為了滿足這些要求,老化設備正在增加。Vicor 可以通過更緊湊、模組化的電源解決方案幫助實現更高的老化吞吐量,以降低測試和老化成本,實現快速開發。

Increasing capacity of semiconductor burn-in thermal chambers

供電網路

老化設備得益於帶有 48V 分佈式母線的 PDN,可滿足高功率密度、高效率和高效熱管理的需求。 全 chip 和半 chip 封裝的低壓 Vicor BCM 執行固定比率轉換,可在老化應力下增加功率密度和負載電流。 BCM 的集成平面磁性器件讓模組實現了很薄的厚度 – 通常小於 8 毫米,可簡化冷卻方法和熱管理。BCM 有多種固定比率,提供了靈活性和模組化,以簡化老化板的開發。另一種 Vicor 固定比率轉換器是雙向非隔離母線轉換器 NBM 系列。NBM 系列產品是一種高效率大功率母線轉換器,專為採用分佈式 48V 母線的 ATE 製造商量身定制,這些製造商需要在大電流下提供 12V 電壓,且在小型散熱封裝(小至 23mm X 17mm X 5.2mm)中的效率高於 96%。

Power Delivery Network for or increasing capacity of semiconductor burn-in thermal chambers

BCM® 高壓母線轉換器模組

輸入:800 – 48V

輸出:2.4 – 55.0V

功率:高達 150A

效率:高達 98%

尺寸:22.0 x 16.5 x 6.7 毫米

NBM 固定比率 DC-DC 轉換器

輸入:36 – 60V

輸出:7.2 – 15.3V

效率:Up to 2400W

效率:超過 98%

小巧至: 23 x 17 x 5.2 毫米

資源

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